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      E3-3D 三維定位鍍層測厚分析儀器

      E3-3D 三維定位鍍層測厚分析儀器是一款通用型能量色散型X射線熒光光譜儀(EDXRF),專門用于鍍層厚度檢測;其核心部件采用美國進口,軟件算法采用美國EDXRF前沿技術,儀器所用標準樣品均有第三方檢測機構報告;精密度、準確度、檢出限等技術參數全面超過國內外同類儀器,特別針對大件異形不平整樣品,無需拆分,直接測試即可達到精確的測試效果。

      • 更新時間:2017-06-08
      • 瀏覽次數:1472
      • 產品地址:上海寶山

      E3-3D 三維定位鍍層測厚分析儀器是一款通用型能量色散型X射線熒光光譜儀(EDXRF),專門用于鍍層厚度檢測;其核心部件采用美國進口,軟件算法采用美國EDXRF前沿技術,儀器所用標準樣品均有第三方檢測機構報告;精密度、準確度、檢出限等技術參數全面超過國內外同類儀器,特別針對大件異形不平整樣品,無需拆分,直接測試即可達到精確的測試效果。

      E3-3D 三維定位鍍層測厚分析儀器

      產品特點:

      ● 樣品蓋鑲嵌鉛板屏蔽X射線

      ● 輻射標志警示          

      ● 儀器經第三方檢測,X射線劑量率完全符合GB18871-2002《電離輻射防護與輻射源安全基本標準》

      硬件技術

      ● X射線下照式,激光對焦可調樣品倉,對于異形不平整樣品,無需拆分打磨,可直接測試

      ● 模塊化準直器,根據分析元素,配備不同材質準直器,從而降低準直器對分析元素的影響,提高元素分辨率

      ● zui小光斑0.2mm,可針對各種樣品中的小測試點精確定位,避免材質干擾,測量結果更準確

      ● 空氣動力學設計,加速光管冷卻,有效降低儀器內部溫度;靜音設計

      ● 電路系統符合EMC、FCC測試標準

      軟件技術

      ● 分析元素:Na~U之間元素

      ● 分析時間:90秒

      ● 界面簡潔,模塊化設計,功能清晰,易操作

      ● 數據一鍵備份,一鍵還原、一鍵清理功能,保護用戶數據安全

      ● 根據不同基體樣品,配備三種算法,增加樣品測試精準度

      ● 配備開放式分析模型功能,客戶可自行建立自己的工作模型。

       

      產品規格:

      ●外形尺寸:360 mm x 600mm x 385 mm (長x寬x高)

      ●樣品倉尺寸:360mm×400mm x160(長x寬x高,高度可定制)

      ●儀器重量:50kg

      ●供電電源:AC220V/ 50Hz

      ●zui大功率:330W

      ●工作溫度:15-30℃

      ●相對濕度:≤85%,不結露

       

      配件配置:

      探測器

      ● 類型:X123探測器(*高性能電致冷半導體探測器)

      ● Be窗厚度:1mil

      ● 晶體面積:25mm2

      ● zuijia分辨率:145eV

      ●信號處理系統:DP5

      X射線管

      ●電壓:0-50v

      ●zui大電流;2mA

      ●zui大功率:50W

      ●靶材:Mo

      ●Be窗厚度:0.2mm

      ●使用壽命:大于2w小時

      高壓電源

      ●輸出電壓:0-50Kv

      ●燈絲電流0-2mA

      ●zui大功率:50w

      ●紋波系數:0.1%(p-p值)

      ●8小時穩定性:0.05%

      攝像頭

      ●焦距:微焦距

      ●驅動:免驅動

      ●像素:500萬像素

      準直器、濾光片

      ●系統:快拆卸準直器、濾光片系統

      ●材質:多種材質準直器

      ●光斑:光斑大小Φ0.2mm、Φ1.0mm、Φ2.0mm、Φ4.0mm可選

      十字激光頭

      ●光斑形狀:十字線

      ●輸出波長:紅光650nm

      ●光學透鏡:玻璃透鏡

      ●尺寸:Φ10×30mm

      ●發散角度:0.1-2mrad

      ●工作電壓:DC 5V

      ●輸出功率:<5mW

      ●工作溫度:-10~50℃

      其它配件

      ●開關電源:進口高性能開關電源

      ●散熱風扇:進口低噪聲、大風量風扇

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